高電圧試験室
通電中の試験対象や実験装置の周辺で、絶縁されEMIに強い温度データを取得します。
info@innofj.com技術部門に相談
高電圧試験条件
高電圧試験では、機器が電気的ストレスと強い電磁干渉にさらされます。光ファイバー温度センサは光を使って選定した点を測定し、従来型の電気センサでは信頼性が得られない場合に、電気的に絶縁された信号経路を提供します。
変圧器の形式試験・温度上昇試験、絶縁・AC/DC耐電圧試験、インパルス試験、ケーブル・終端試験、GIS/GIL検証、リアクトル・インダクタ試験、高電圧研究開発ベンチに対応します。

高電圧試験向け光ファイバー測温
光ファイバー点式センサは、通電中、高電磁界、電磁的に厳しい試験環境で、電気的に絶縁された温度測定を提供します。
監視システム機能
統合監視システムは、点式プローブ、多チャンネル収集、警報、可視化、通信出力を組み合わせます。

高電圧試験用途
高電圧試験全般で、光学点監視は性能確認、機器保護、熱挙動の記録に役立ちます。
通電中の試験対象や実験装置の周辺で、絶縁されEMIに強い温度データを取得します。
変圧器の適格性評価で、巻線、引出線、ブッシング、接続部を測温します。
絶縁検証中、導電性センサ経路を追加せずに温度を測定します。
再現性ある開発、比較、性能検討のための計測器試作機と試験品。

試験に合わせた構成

技術特性
蛍光式測定は、電気的に絶縁された光経路を用いて、厳しい試験環境で安定した点温度データを提供します。
蛍光方式の直接点測定。
強電磁界での安定した光伝送。
導電性測定信号経路なし。
確認済み空間に柔軟に配線。
再現性のある試験確認向けリアルタイムデータ。
迅速な回答
受動型光点プローブと対応蛍光式計器を使い、感温点に電気信号経路を設けず、選定位置を測定します。
光信号は、従来の電気センサ配線と同じようには電磁誘導の影響を受けません。
代表的な検討点は巻線、引出線、継手、ブッシング、タップ、端末です。
互換計測器は、実験室システム向けに検討済みの警報・通信・データ出力を提供できます。
応答は選定構成によります。確認のため試験要件をお知らせください。
検出経路は光学式・非導電性ですが、設置全体は試験構成に合わせて検討する必要があります。
はい。必要な独立点数に応じて対応ホストを選べます。
試験対象、対象点、温度範囲、点数、経路、インターフェースをご提示ください。
高電圧試験構成と測定要件を技術チームへお知らせください。